随着科学技术的急速发展，材料分析手段也日益提高，扫描电镜上的X射线微区能谱仪（EDS）和电子背散射衍射系统（EBSD）已经成为材料分析不可或缺的有力工具。为了进一步提高国内以西南地区为主高端用户的EDS和EBSD应用技术水平，重庆大学电子显微镜中心联合牛津仪器科技（上海）有限公司于2018年4月26日在重庆大学召开了纳米分析技术研讨会。参会人员包括在高校、科研院所以及科技型企业的相关实验室技术人员，科研人员，博士后及研究生等。

重庆大学电子显微镜中心副主任黄天林向来自各地的代表表示了热烈的欢迎，EDS技术和EBSD技术的发展，使得扫描电镜不再是一个简单的放大测试工具，而成了一个能为材料、化工、电子等领域研究提供有力支撑的综合研究平台。重庆大学是国内最早大规模应用EBSD技术的单位之一，EBSD技术创始人之一的丹麦技术大学Dorte Juul Jensen教授应邀参会，希望与牛津仪器联办的应用技术研讨会，能为EDS和EBSD的应用水平的提高，贡献自己的一份力量。

    牛津仪器公司的应用专家徐宁安和杨小鹏博士在会议中展示了当前显微分析领域的最新发展趋势，介绍了能谱使用新思路及高空间分辨率分析技术、分析技巧及EBSD技术最新进展。会议邀请了重庆大学柳亚辉博士做了关于纯钽变形与再结晶微结构的EBSD定量表征研究报告。

下午，参会人员在重庆大学电镜中心进行上机应用及现场答疑讨论，在热烈的气氛中，来自全国的研究者和技术人员开展了关于纳米分析技术的多方面讨论。重庆大学电镜中心技术人员及牛津仪器应用团队还给与会者深入讲解了设备硬件维护与软件的使用技巧。

此次研讨会为大家带来了纳米分析技术在不同科学领域应用的解决方案和使用技巧，以及在应用方面的最新研究成果。众多与会者表示，通过此次研讨会，不仅了解到扫描电镜微区分析技术的最新进展，更重要的是得到了很多仪器手册和一般应用培训中没有的实际应用技巧，获益匪浅。